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藍(lán)寶石拋光液檢測(cè)適用于各種領(lǐng)域

 更新時(shí)間:2018-08-27  點(diǎn)擊量:2864
   藍(lán)寶石拋光液檢測(cè)適用于各種領(lǐng)域
   藍(lán)寶石拋光液檢測(cè)是一種分散穩(wěn)定性好的a相納米氧化鋁拋光液,是我公司將不同粒徑的納米氧化鋁拋光粉經(jīng)過特殊的分散工藝,分散成穩(wěn)定的懸浮液,方便直接使用于粉體拋光粉適用的各種領(lǐng)域。
   藍(lán)寶石拋光液檢測(cè)操作方便,在工作過程中可隨時(shí)抽查零件的加工效果,機(jī)器可配自動(dòng)出料裝置,可將拋磨塊與工件進(jìn)行分離,工件自動(dòng)排出。藍(lán)寶石拋光液晶粒尺寸微細(xì)、晶型完好;比重大,具有良好的分散性。 顆粒細(xì)小均勻無團(tuán)聚,適合于鏡面精拋光用途。
   化學(xué)機(jī)械拋光這兩個(gè)概念主要出現(xiàn)在半導(dǎo)體加工過程中,初的半導(dǎo)體基片(襯底片)拋光沿用機(jī)械拋光、例如氧化鎂、氧化鋯拋光等,但是得到的晶片表面損傷是及其嚴(yán)重的。直到60年代末,一種新的拋光技術(shù)— —化學(xué)機(jī)械拋光技術(shù)取代了舊的方法。CMP技術(shù)綜合了化學(xué)和機(jī)械拋光的優(yōu)勢(shì):?jiǎn)渭兊幕瘜W(xué)拋光,拋光速率較快,表面光潔度高,損傷低,性好,但表面平整度和平行度差,拋光后表面一致性差;單純的機(jī)械拋光表 面一致性好,表面平整度高,但表面光潔度差,損傷層深?;瘜W(xué)機(jī)械拋光可以獲得較為的表面,又可以得到較高的拋光速率,得到的平整度比其他方法高兩個(gè)數(shù)量級(jí),是目前能夠?qū)崿F(xiàn)全局平面化的有效方法。
   藍(lán)寶石拋光液檢測(cè)依據(jù)機(jī)械加工原理、半導(dǎo)體材料工程學(xué)、物力化學(xué)多相反應(yīng)多相催化理論、表面工程學(xué)、半導(dǎo)體化學(xué)基礎(chǔ)理論等,對(duì)硅單晶片化學(xué)機(jī)械拋光機(jī)理、動(dòng)力學(xué)控制過程和影響因素研究標(biāo)明,化學(xué)機(jī)械拋光是一個(gè)復(fù)雜的多相反應(yīng),它存在著兩個(gè)動(dòng)力學(xué)過程:(1)拋光首先使吸附在拋光布上的拋光液中的氧化劑、催化劑等與襯底片表面的硅原子在表面進(jìn)行氧化還原的動(dòng)力學(xué)過程。這是化學(xué)反應(yīng)的主體。(2)拋光表面 反應(yīng)物脫離硅單晶表面,即解吸過程使未反應(yīng)的硅單晶重新裸露出來的動(dòng)力學(xué)過程。
   藍(lán)寶石拋光液檢測(cè)是控制拋光速率的另一個(gè)重要過程。硅片的化學(xué)機(jī)械拋光過程是以化學(xué)反應(yīng)為主的機(jī)械拋光過程,要獲得質(zhì)量好的拋光片,必須使藍(lán)寶石拋光液檢測(cè)拋光過程中的化學(xué)腐蝕作用與機(jī)械磨削作用達(dá)到一種平衡。如果化學(xué)腐蝕作用大于機(jī)械拋光作用,則拋光片表面產(chǎn)生腐蝕坑、桔皮狀波紋。如果機(jī)械磨削作用大于化學(xué)腐蝕作用,則表面產(chǎn)生高損傷層。