欧美一区二区三区久久综合,视频分类 国内精品,久久久久久久性潮,亚洲欧洲日产国码无码app

客戶咨詢熱線:
news information新聞動態(tài)
首頁 > 新聞動態(tài) >美國PSS粒度儀誠邀您參加顆粒技術研討會

美國PSS粒度儀誠邀您參加顆粒技術研討會

  更新時間:2016-08-11 點擊量:3051

為交流國內外顆粒學研究與技術的進展,每兩年一屆的“中國顆粒學會學術年會暨海峽兩岸顆粒技術研討會”將于2016年8月12-14日(8月12日報到)在四川省成都市舉辦,會期2天。本屆會議由中國顆粒學會主辦,中國顆粒學會超微顆粒專委會協(xié)辦。

 

中國顆粒學會是從事顆??茖W和技術的研究、開發(fā)和應用的科技工作者的自愿組織。學會旨在通過組織國內和學術會議,開展科普和繼續(xù)教育,出版學術期刊和學術論文集等多種形式的學術活動,增強會員之間的交流、傳播顆粒學知識、促進中國顆粒學技術的發(fā)展。其終的目的是服務于國家的現代化建設。

 

會議地點:四川省成都市雙流區(qū)機場路181號成都家園酒店

 

展位號:No.9(具體位置見展位分布圖)

 

 

美國PSS粒度儀公司市場總監(jiān)Mark,受大會的邀請將在*分會場做一個關于動態(tài)光散射技術在納米檢測領域應用的報告。歡迎大家前來討論與交流。

 

報告地點:*分會場--顆粒的測試與表征

 

報告時間:2016年8月13日 下午14:25-14:40

 

報告題目:Dynamic light scattering (DLS) is the preferred method for measuring particle size of submicron particles

 

報告人: Mark Bumiller (美國PSS粒度儀市場總監(jiān))

 

*分會場報告順序具體如下: